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VersaSCAN SKP掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)整合定位系統(tǒng)及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計(jì)和鎢絲探針。
查看詳情VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。它是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以較高空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。
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材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀(guān)測(cè)試, 測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用
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